SJT 10736-1996 半导体集成电路HTL电路测试方法的基本原理
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ID： |
A18D78DB1CA649D2B7A803650996798F |
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文件大小(MB)： |
0.87 |
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页数： |
17 |
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文件格式： |
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日期： |
2024-7-28 |
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UDC 621.382.049.75-181.4：621.317.08,中华人民共和国国家标准,GB 3440 — 82,降为 SJ/T 10736-96,半导体集成电路HTL电路,测试方法的基本原理,General principles of measuring methods,of HTL circuits for semiconductor integrated circuits,1 98272-31 发布1 98370 01 实施,画京ス示准局批准,中华人民共和国国家标准,半导体集成电路HTL电路,测试方法的基本原理,UDC 621.382.049,.75-181.4,：621.317.08,GB 3440—82,General principles of measuring methods,of HTL circuits for semiconductor integrated circuits,本标准规定了半导体集成电路HTL电路(以下简称器件)静态参数和动态参数测试方法的基本,原理,本标准是参考国际电エ委员会(IEC) 147-2《半导体器件和集成电路测试方法的基本原理〉陶J,订的,若无特殊说明,本标准涉及的逻辑均为正逻辑,总的要求,1.1 若无特殊说明,测试期间,环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合器件详细规范的规定,1.2 测试期间,应避免外界干扰对测试精度的影响。测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范,的规定,1.3 测试期间,施于被测器件的电源电压应在规定值的士 1 %以内。施于被测器件的其它电参量的,精度应符合器件详细规范的规定,1.4 被测器件与测试系统连接或断开时,不应超过器件的使用极限条件,1.5 除了被测器件的功能是由参数测试来证实外,在静态参数测试和动态参数测试前应进行功能测,试,2靜态参数测试,2.1 输出高电平电压Voh,2.1.1 定义,输入端在施加规定的电平下,使输出端为逻辑高电平H时的电压,2.1.2 测试原理图,输出高电平电压るH的测试原理图如图1所示,国家标准局1 982 - 12 - 81发布1983 To - 01 实施,图1,GB 3440 — 82,2.1.3 测试条件,测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定,a.环境温度Tai,b.电源电压匕;G,C.输入端施加的电平;,d.输出端负载电流/oh0,1.4测试程序,2,2,2,2,2,2,2,1.4.1,1.4.2,1.4.3,1.4.4,1.4.5,1.4.6,在器件详细规范规定的环境温度 な下,将被测器件接入测试系统中,电源电压Vcc调到器件详细规范规定的电压值,输入端施加器件详细规范规定的电平,被测输出端抽出器件详细规范规定的负载电流/。”;其余输出端开路,在被测输出端测得输出高电平电压レ,按本标准第2J.4.3项至2.1.4.5项规定,分别测试每个输出端,2输出高电平电压（扩展端）y皿,2.1定义,有扩展端的门电路,扩展端和输入端在施加规定的条件下,使输出端为逻辑高电平”时的电压b,2.2.2 测试原理图,输出高电平电压（扩展端）的测试原理图如图2所示,/,/,图2,2.2.3 测试条件,测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定,a.环境温度，n,b. 电源电压たs,c.输入端施加的电平,d.扩展端电压限す,e.输出端负载电流/。“,2.2.4测试程序,2.2.4.1,2.2.4.2,2.2.4.3,2.2.4.4,2.2.4.5,在器件详细规范规定的环境温度フン下，将被测器件接入测试系统中,电源电压々:。调到器件详细规范规定的电压值,扩展端电压唳调到器件详细规范的规定值，其余输入端施加器件详细规范规定的电平,输出端抽出器件详细规范规定的负载电流/。“,在输出端测得输出高电平电压（扩展端）VoHX.,2,GB 3440 82,2.3 ー输出低电平电压V0L,2.3.I 定义,输入端在施加规定的电平下,使输出端为逻辑低电平二时的电压,2.3.2 测试原理图,输出低电平电压/。厶的测试週图如图3所示,输入网络,被测器件,图3,2.3.3 测试条件,测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定,a. 环境温度な,b.电源电压てC,c.输入端施加的电平;,d.输出端负载电流/0厶,2.3.4 测试程序,2.3.4.1,2.3.4.2,2.3.4.3,2.3.4.4,2.3.4.5,2.3.4.6,在器件详细规范规定的环境温度な下,将被测器件接入测试系统中,电源电压Vcc调到器件详细规范规定的电压值,输入端施加器件详细规范规定的电平,被测输出端注入器件详细规范规定的负载电流/0丄，其余输出端开路,在被测输出端测得输出低电平电压る￡ 〇,按本标准第2.3丒4丒3项至2丒3.4.5项规定,分别测试每个输出端,2.4 输出低电平电压（扩展端）V0LX,2.4.1 定义,有扩展端的门电路,扩展端和输入端在施加规定的条件下,使输出端为逻辑低电平ム时的电压,2.4 . 2测试原理图,输出低电平电压（扩展端）匕）lx的测试原理图如图4所示,ス,输入网络,被测器件,图4,3,GB 3440— 82,2.4.3测试条件,测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定,a. 环境温度Ta ；,b.电源电压K";,c.输入端施加的电平;,d.扩展端电压⑹0,e.输出端负载电流/0丄,2.4.4测试程序,2.4.4.1,2.4.4.2,2.4.4.3,2.4.4.4,2.4.4.5,在器件详细规范规定的环境温度Tス下,将被测器件接入测试系统中,电源电压Vcc调到器件详细规范……
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